X射线衍射仪(XRD)
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技术指标
粉末X射线衍射分析仪由单色X射线源、样品台、测角仪、探测器和X射线强度测量系统所组成。Cu(Mo)靶X射线发生器发出的单色X射线通过入射soller狭缝，发散狭缝照射样品台，X射线经试样晶体产生衍射，衍射线经出射狭缝，散射soller狭缝，接受狭缝被探测器检测。X射线管发射的X射线照射晶体物质后产生吸收、散射、衍射X荧光、俄歇电子和X电子。晶体中原子散射的电磁波互相干涉和互相叠加而产生衍射图谱。X射线粉末衍射图谱可以提供三种晶体结构信息：衍射线位置（角度）、强度和形状（宽度），根据这些信息可以进行晶体结构分析、物相定性及定量分析和晶粒大小分析等。相关应用
金属材料分析：了解材料的化学成分，如各种钢及合金、铝合金、镁合金、钛合金、铁合金等。陶瓷材料分析：分析陶瓷原料成分的纯度、烧制反应物成分、以及各种陶瓷的定性定量分析。
高分子材料分析：分析聚合物中各种添加元素如Al、Mg、P、Ca、Ti、Cu等；分析塑料中有害成分；分析聚合物表面镀膜及化学处理成分等。
催化剂材料分析：分析催化剂中微量元素，剖析催化剂的组成。矿物材料分析：分析各种矿物材料的组成、稳定性、原料的真伪等。
