扫描电子显微镜/X射线能谱仪（SEM/EDS）

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仪器名称:扫描电子显微镜/X射线能谱仪（SEM/EDS） 生产厂家:日本日立 仪器型号:S-4800 购入时间: 目前状态:正常使用中 测试费用:面议 联系人:扫描电子显微镜/X射线能谱仪（SEM/EDS）

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技术指标

二次电子分辨率:1.0nm(15 kV); 2.0 nm(1 kV)
背散射电子分辨率:3.0 nm(15 kV)
电子枪:冷场发射电子源
加速电压:0.5~30 kV（0.1 kV/步，可变）
放大倍率:×30 ~ ×800,000。
X射线能谱仪的元素分析范围为Be4~U92。

相关应用

用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析，主要用途如下： 金属、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、变形层等的观察；材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定；金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定；纳米材料及其它无机或有机固体材料的粒度观察和分析 ；进行材料表面微区成分的定性和定量分析。